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元器件熱阻和熱特性辨析

admin
最近在寫熱分析和熱設計的章節(jié),把一些材料整理出來給大家分享一下,與原文有些差距,增加多樣性,呵呵。
首先看英文的指引,是指JESD51中關于熱阻和熱特性參數(shù)的表格定義。
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Theta (θ)、Psi (Ψ)的定義
熱阻劃分
θJA是結到周圍環(huán)境的熱阻,單位是°C/W。θJA取決于 IC封裝、電路板、空氣流通、輻射和系統(tǒng)特性,通常輻射的影響可以忽略。θJA專指自然條件下的數(shù)值。

器件說明書中的ΦJA是根據(jù)JESD51標準給出的,其標準環(huán)境是指將器件安裝在較大的印刷電路板上,并置于1立方英尺的靜止空氣中。因此說明書中的數(shù)值沒有太大的參考價值。

θJC是結到管殼的熱阻,管殼可以看作是封裝外表面的一個特定點。θJC取決于封裝材料(引線框架、模塑材料、管芯粘接材料)和特定的封裝設計(管芯厚度、裸焊盤、內部散熱過孔、所用金屬材料的熱傳導率)。

注意θJC表示的僅僅是散熱通路到封裝表面的電阻,因此θJC總是小于θJA。θJC表示是特定的、通過傳導方式進行熱傳遞的散熱通路的熱阻,而θJA則表示的是通過傳導、對流、輻射等方式進行熱傳遞的散熱通路的熱阻。

θCA是指從管殼到周圍環(huán)境的熱阻。θCA包括從封裝外表面到周圍環(huán)境的所有散熱通路的熱阻。注意,如果有散熱片,則可分為θCS和θSA。
θJA = θJC + θCA

θJB是指從結到電路板的熱阻,它對結到電路板的熱通路進行了量化。通常θJB的測量位置在電路板上靠近封裝處。θJB包括來自兩個方面的熱阻:從IC的結到封裝底部參考點的熱阻,以及貫穿封裝底部的電路板的熱阻。
以上三個熱阻的對比圖:
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熱特性
Ψ和θ之定義類似,但不同之處是Ψ 是指在大部分的熱量傳遞的狀況下,而θ是指全部的熱量傳遞。在實際的電子系統(tǒng)散熱時,熱會由封裝的上下甚至周圍傳出,而不一定會由單一方向傳遞,因此Ψ之定義比較符合實際系統(tǒng)的量測狀況。
  
ΨJB是結到電路板的熱特性參數(shù),單位是°C/W。熱特性參數(shù)與熱阻是不同的。與熱阻θJB測量中的直接單通路不同,ΨJB測量的元件功率通量是基于多條熱通路的。由于這些ΨJB的熱通路中包括封裝頂部的熱對流,因此更加便于用戶的應用。

ΨJT是衡量結溫和封裝頂部溫度之間的溫度變化的特征參數(shù)。當封裝頂部溫度和功耗已知時,ΨJT有助于估算結溫。
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結論
θ-JA 是非常糟糕的,計算僅用于理想的PCB理想的貼裝,理想的環(huán)境。
θ-JC 是非常糟糕的,只有那種特別大的封裝才有意義TO220,因為直接傳導占據(jù)最主要的比例。
Ψ-JL, Ψ-JB, Ψ-JT, 不同的模型:在正確使用的時候,是一個非常好的模型
參考資料:
IC封裝熱阻的定義與量測技術
AP4083—IC封裝的熱特性(MAXIM)
AP3500—通過測量有源元件的管芯溫度監(jiān)控電子系統(tǒng)的熱耗散(MAXIM)

標準系列:
JESD51: Methodology for the Thermal Measurement of Component  Packages (Single Semiconductor Device)

JESD51-1: Integrated Circuit Thermal Measurement  Method—Electrical Test Method (Single Semiconductor Device)

JESD51-2: Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental  Conditions—Natural Convection (Still Air)

JESD51-3: Low Effective Thermal Conductivity Test Board for  Leaded Surface Mount Packages

JESD51-4: Thermal Test Chip Guideline (Wire Bond Type Chip)

JESD51-5: Extension of Thermal Test Board Standards for Packages with Direct Thermal Attachment Mechanisms

JESD51-6: Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental Conditions—Forced Convection (Moving Air)

JESD51-7: High Effective Thermal Conductivity Test Board for  Leaded Surface Mount Packages

JESD51-8: Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental  Conditions—Junction-to-Board

JESD51-9: Test Boards for Area Array Surface Mount Package Thermal Measurements

JESD51-10: Test Boards for Through-Hole Perimeter Leaded Package Thermal Measurements.

JESD51-11Test Boards for Through-Hole Area Array Leaded


JEDEC51-12: Guidelines for Reporting and Using Electronic Package Thermal Information.

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